GB/T17626静电放电抗扰度试验办理机构。静电放电抗扰度试验最新标准GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，静电放电是普遍存在的自然现象（当充有电荷的物体靠近或接触一个导体时，电荷就要发生转移，这就是静电放电）。无处不在的影响着电子产品，是一种危害程度极高的电磁能量。只有提高电子产品抗静电能力水平。才能保证电子的安全使用。电子静电抗扰度测试根据ISO10605 GB/T19951-2005执行一般常说的静电放电测试是指IEC61000-4-2标准。静电放电的实验主要模拟的人体带电直接接触被试物品，所进行的放电。
静电放电的起因有多种，但GB/T17626.2-2006主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使人体积累了电荷。当带有电荷的人与设备接触时，就可能产生静电放电。
试验目的：
试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟：
（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。
（2）人或物体对邻近物体的放电。
静电放电可能产生的如下后果：
（1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。
（2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。
直接放电（直接对设备的放电）：接触放电为首选形式；只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙放电。
间接放电：水平耦合，垂直耦合。
注：图中省略的Cd是存在于发生器与受试设备，接地参考平面以及偶合板之间的分布电容，由于此电容分布在整个发生器上，因此，在该回路中不可能标明。
试验方法：
有型式试验（在实验室进行）及安装现场试验两种，标准规定以前者为主。 试验中一般以1次/秒的速率进行放电，以便让设备对试验未来得及响应另外正式试验前要用20次/秒的放电速率，对被试设备表面很快扫视一遍，目的找出设备对静电放电敏感的部位。试验电压要由低到高逐渐增加到规定值。
1）单次放电。2）在选定点与地之间进行放电。3）每个点上至少放电10次（正或负极性）。4）相邻两次放电之间至少间隔1秒在选择放电点的时候，则用每秒20次的放电速度进行，着力于寻找可能静电放电敏感的点。 对于邻近物体间的放电，可通过对接地板和试品附近（相距250px）的金属板（1250px×1250px）放电来模拟。
试验结果应依据受试设备的功能丧失或性能降级进行分类。相关的性能水平由设备的制造商或试验的需求方确定，或由产品的制造商和购买双方协商同意。建议按如下要求分类：
a）在制造商、委托方或购买方规定的限值内性能正常
b）功能或性能暂时丧失或降低，但在骚扰停止后能自行恢复，不需要操作者干预；
c）功能或性能暂时丧失或降低，但需操作人员干预才能恢复；
d）因设备硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能降低。
由制造商提出的技术规范可以规定对受试设备产生的某些影响是不重要的，因而这些影响是可接受的。在没有适用的通用标准、产品标准或产品类标准时，这种分类可以由负责相应产品通用标准、产品标准和产品类标准的专业标准化技术委员会制定用于作为明确性能判据的指南，或作为制造商和购买方双方协商的性能判据的框架。
