EN61326-1性能标准：
性能标准A和B中定义的第一部分在EN 61326-1中保持不变。但是，2013版增加了与“允许的性能损失”相关的部分。如果制造商未确定最低性能级别或允许的性能损失，用户可以根据设备或产品文档的合理期望推断它们。换句话说，产品的功能仍然可以通过2006版本中指定的用户干预来恢复 - 这个版本只是有额外的措辞来澄清。EN61326-1排放标准：
2006版本参考CISPR 11：2003，而2013版本参考CISPR 11：2009 + A1：2010。CISPR 11：2009的第一次修订已经为“小型设备”在3米测试距离处建立了替代辐射发射限值，其中“小型设备”被定义为适合于距离地平面1.5米的圆柱形测试体积和1.2米的设备。放在平坦表面上时的直径。
EN61326-1基本环境中的免疫力：
静电放电（ESD）的测试水平从EN 61636-1：2006中的±4 kV接触放电和±4 kV空气放电增加到EN 61326-1：2013中的±4 kV接触放电和±8 kV空气放电。这一变化旨在使标准更接近非实验室环境。对于磁敏设备，EN 61326-1：2013增加了对工频磁抗扰度（IEC 61000-4-8）的新要求，测试水平为3A / m。受影响的设备类型包括霍尔效应传感器和磁继电器。
EN61326-1工业环境的免疫力：
2013版中的每个订单项现在都有符合2006标准的性能标准。没有进行任何其他更改，使此部分基本相同。受控EM环境的免疫性：
EN 61326：2006有一个名为“Measurement I / O”的端口类别，允许制造商定义测试级别（即没有强制测试级别），并在产品文档中说明EUT的测试级别。在EN 61326：2013中，此端口类别已被删除。因此，先前属于“测量I / O”类别的端口现在将属于剩余的“I / O信号/控制”类别，其中所需的测试级别由标准定义，而不是由制造商。以上资料由环测威标准检测整理发布，如有疑问或需检测认证欢迎与环测威标准检测直接沟通。深圳环测威检测机构拥有自建实验室，为广大客户提供专业的各行各业的检测认证服务，深受广大客户信赖。
